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1200型渦流電導(dǎo)率儀專為非磁性金屬設(shè)計(jì)，可輕松實(shí)現(xiàn)高精度電導(dǎo)率測(cè)量。探頭可互換且已預(yù)先校準(zhǔn)。更換探頭是一項(xiàng)即插即用過(guò)程，無(wú)需任何用戶輸入。探測(cè)器參數(shù)顯示在顯示屏上，包括最后校準(zhǔn)日期。通過(guò)備用探頭，儀器在每年的校準(zhǔn)期間可以實(shí)現(xiàn)100%的正常運(yùn)行時(shí)間。只需將探頭送給我們進(jìn)行校準(zhǔn)，同時(shí)使用備用探頭。一旦探頭完成校準(zhǔn)，您也可以將備用探頭送來(lái)進(jìn)行校準(zhǔn)。

渦流電導(dǎo)率儀采用最xin技術(shù)，提供了一種用戶友好且實(shí)用的儀器，用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量電導(dǎo)率。該儀器采用可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)，即使在測(cè)量粗糙表面時(shí)也能提供可靠的讀數(shù)

Sigmascope SMP350測(cè)量非鐵金屬的電導(dǎo)率儀測(cè)量非鐵金屬的電導(dǎo)率儀是測(cè)量一個(gè)重要的材料屬性，不僅對(duì)金屬傳導(dǎo)電流的能力，也對(duì)其成分、微觀結(jié)構(gòu)和機(jī)械性能提供信息。使用SIGMASCOPE® SMP350可以簡(jiǎn)單快速并 地測(cè)定電導(dǎo)率。

電解拋光腐蝕儀SDW -06X是一臺(tái)集電解拋光、腐蝕功能為一體的金相制樣儀器。適合于工廠、大專院校、科研機(jī)構(gòu)等實(shí)驗(yàn)室使用。該設(shè)備利用電化學(xué)原理進(jìn)行金相樣品的制備，還可用于金相試樣的拋光，也可用于金相試樣的腐蝕，具備制樣快，重復(fù)性好、沒(méi)有機(jī)械加工的變形層等優(yōu)點(diǎn)，是有色金屬試樣、鋼尤其是不銹鋼制備金相樣品的理想設(shè)備。

智能金屬箔電阻率測(cè)量?jī)x TB-300便攜全自動(dòng)測(cè)量金屬導(dǎo)線、 箔電阻率、電導(dǎo)率等參數(shù)高性能檢測(cè)儀器。應(yīng)用電流 – 電壓降四端子測(cè) 量法、*電子技術(shù)、單片機(jī)技術(shù)及自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)設(shè)計(jì)的高新產(chǎn)品。其性能*符合 GB/T3048.2及 GB/T3048.4中的相關(guān)技術(shù)要求。廣泛應(yīng)用于金屬箔、金屬薄帶、電池極 耳等新能源領(lǐng)域及電力電工、電線電纜、電機(jī)電器、高等院校、科研單位等行業(yè)。

晶間腐蝕測(cè)試儀SDW-4334 是金屬局部腐蝕的一種，通常出現(xiàn)于不銹鋼、鋁合金、黃銅和鎳基合金等材料中。晶間腐蝕是沿著金屬晶粒間的分界面向內(nèi)部擴(kuò)展的腐蝕。晶間腐蝕的原因是晶粒表面和內(nèi)部間化學(xué)成分的差異以及晶界雜質(zhì)或內(nèi)應(yīng)力的存在。

Sigma 2008A系列便攜式數(shù)字渦流電導(dǎo)率儀是可以替代國(guó)外同類產(chǎn)品、應(yīng)用渦流相位檢測(cè)法設(shè)計(jì)的數(shù)字電導(dǎo)率儀?？梢杂糜诜氰F磁性金屬的電導(dǎo)率、分級(jí)和分類等檢查。廣泛適用于冶金、機(jī)械、電力電工、航空、航天、核工業(yè)、軍工等工業(yè)部門。供應(yīng)Sigma2008A便攜式數(shù)字金屬渦流電導(dǎo)率儀